導熱矽脂的導熱係數的高低很大程度能夠決(jue) 定散熱器的散熱效果，當然導熱矽脂的導熱係數越高越好。那麽(me) 如何測試導熱矽脂的性能呢？今天匯巨工程師為(wei) 你解答！導熱矽脂性能的測試方法主要有三種分別是熱板法、激光散光法和Hot Disk，具體(ti) 原理如下：

1、熱板法(Hot Plate)/熱流計法(Heat Flow Meter)穩態法

原理是Fourier傳(chuan) 熱方程式計算法：dQ=-λdA·dt/dn；其中：式中 Q-----導熱速率，w;A-----導熱麵積，m2;dt/dn-----溫度梯度，K/m;λ------導熱係數，w/m·K;測試過程中對樣品施加一定的熱流量，測試樣品的厚度和在熱板/冷板間的溫度差，得到樣品的導熱係數，測試過程中需要樣品為(wei) 常規形狀的大塊體(ti) 以獲得足夠的溫度差。誤差來源：熱板/冷板中的樣品沒有很好的進行保護，存在一定的熱損失。測溫元件是熱電偶，將熱板/冷板間隙的界麵影響都計算在內(nei) 。第一個(ge) 誤差來源令這個(ge) 方法不適合導熱係數>2W/mK的樣品，熱損失太大，而且溫度越高，誤差越大。第二個(ge) 誤差來源實際是將接觸熱阻也計算在內(nei) ，溫度差偏大，因此實際測得的導熱係數偏低。另外，這一方法隻能提供導熱係數的數據，精度為(wei) 5%。

2、激光散光法(Laser Flash)

瞬態法，其原理是一束激光打在樣品上表麵，用紅外檢測器測下表麵的溫度變化，實際測得的數據是樣品的熱擴散率，通過與(yu) 標準樣品的比較，同時得到樣品的密度和比熱，通過Cp=λ/H, H----熱擴散係數，m2/s;λ----導熱係數，w/m·K;Cp----體(ti) 積比熱，J/m3·K，並通過數據計算得到樣品的導熱係數。此測試方式優(you) 點是快速，非接觸法，適合高溫，高導熱樣品，但不適合多層結構、塗層、泡沫、液體(ti) 、各向異性材料等。原因是激光法測試的是熱擴散率，數學模式建立在各向同性材料的基礎上，如為(wei) 多層結構、塗層，或樣品存在吸收/輻射，則測得樣品的比熱出現較大偏差。另外，還需要用其他方法測得密度，才能折算為(wei) 導熱係數，增加了誤差的來源。通常，激光脈衝(chong) 法精度為(wei) 熱擴散率3%，比熱7%，導熱係數10%。

3、Hot Disk(TPS技術)       

樣品尺寸：固體(ti) ：直徑或邊長大於(yu) 2mm，厚度大於(yu) 0.5mm(2個(ge) 一模一樣)，樣品可以為(wei) 不規則形狀，隻要上下表麵平整即可；導熱係數範圍: 0.005―500 W/mK 。溫度範圍: 室溫 ― 700°C，測試原理：瞬變平麵熱源技術（TPS），測試模塊：基本、薄膜、平板、各向異性、單麵、比熱。探頭尺寸：2-29.40 mm 。

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